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使用金屬探測器的幾個(gè)常見誤區(qū)

文章欄目 : 新聞資訊 發(fā)布日期:11-16 16:03 瀏覽量 : 122

金屬探測器作為控制金屬異物的典型儀器,是控制食品物理性危害的有效儀器,在食品行業(yè)應(yīng)用越來越廣泛。但部分食品企業(yè)在金屬探測器的認(rèn)識或使用方面還存在著或多或少的問題,使得金屬探測器的使用效果大打折扣。下面結(jié)合本人多年經(jīng)驗(yàn),列舉一些檢測中存在的常見誤區(qū),并推薦一些解決辦法。

誤區(qū)一:過分依賴金屬探測器

誤區(qū)分析:金屬探測器是根據(jù)金屬在磁場中的感應(yīng)引起磁場信號的變化原理設(shè)計(jì)的,用來檢測產(chǎn)品中的金屬異物。與對產(chǎn)品中其他異物檢測的技術(shù)相比,其在對產(chǎn)品金屬異物檢測方面具有通用性、易于操作、不需要特別防護(hù)等優(yōu)點(diǎn),但也存在只能用于金屬異物的檢測以及檢測靈敏度受諸多因素影響等缺陷。金屬探測器對檢出金屬的規(guī)格等有一定的限制,同時(shí)在使用過程中,其靈敏度還會受到外界振動、溫度以及產(chǎn)品水分、鹽分含量或者產(chǎn)品本身溫度、個(gè)體大小、組分等因素的影響。

推薦做法:一般食品企業(yè)用來過篩粉類、流體類原料用的篩網(wǎng),或者清潔工用具的鋼絲球等,不能依賴金屬探測器來控制因篩網(wǎng)和鋼絲球等產(chǎn)生的破損而對產(chǎn)品造成的隱患。篩網(wǎng)類的金屬必須靠前工序的日常檢查來控制其可能對產(chǎn)品造成的隱患,鋼絲球等不能在食品加工區(qū)域內(nèi)使用。

誤區(qū)二:頻繁移動金屬探測器

誤區(qū)分析:在一些食品企業(yè),因?yàn)榭紤]到金屬探測器的購買成本,檢測人員往往在不同生產(chǎn)線上流動使用同一臺金屬探測器,或者在同一流水線根據(jù)工藝步驟地不同,頻繁移動金屬探測器以達(dá)到其檢測的目的,這些現(xiàn)象容易使金屬探測器在移動過程中受到外部震動;另外由于放置在不同地方,可能造成使用條件(環(huán)境溫度、濕度等)發(fā)生變化,這些都會影響金屬探測器運(yùn)行的穩(wěn)定性。長此以往,容易造成金屬探測器的運(yùn)行不正常,縮短其使用壽命。

推薦做法:為了使金屬探測器長期保持良好的狀態(tài),應(yīng)選擇合適的地方進(jìn)行安裝固定。要求沒有外部震動,不受日光照射,遠(yuǎn)離熱源(如火爐、加熱器等),潔凈(經(jīng)常清潔,保持少塵,最好無塵),溫濕度相對穩(wěn)定(溫度一般在0~40℃),濕度一般在30%~80%),不能發(fā)生急劇變化,不能出現(xiàn)有冷凝水凝結(jié)等情況,儀器附近無易揮發(fā)、易腐蝕和易燃易爆等物質(zhì)。同時(shí),應(yīng)保證周圍沒有活動的金屬物質(zhì),也不能在已有金屬探測器的附近安裝(會發(fā)生相互干擾等)。在安裝位置確定后,應(yīng)使用支撐螺釘撐起一起,并將儀器調(diào)至水平,以免產(chǎn)生噪音或發(fā)生皮帶跑偏等情況。

誤區(qū)三:運(yùn)行狀態(tài)確認(rèn)時(shí)間間隔隨意性強(qiáng)

誤區(qū)分析:有些企業(yè)在使用過程中,用標(biāo)準(zhǔn)測試片進(jìn)行金屬探測器檢出能力確認(rèn)時(shí),沒有明確規(guī)定兩次確認(rèn)之間的間隔。常見的問題是檢測過于頻繁,或者過于稀疏,甚至還存在發(fā)現(xiàn)異常時(shí)才進(jìn)行頻繁測試、未見異常情況時(shí)很少測試,甚至不測試的情況。這些都不利于金屬探測器的良好運(yùn)行,同時(shí)還會導(dǎo)致產(chǎn)品漏檢、誤檢時(shí)的糾偏成本增加(因不能證實(shí)異常發(fā)生的時(shí)間或者時(shí)段,沒有客觀證據(jù)證實(shí)其中部分產(chǎn)品合格,而需要全部重新檢驗(yàn))。

推薦做法:在金屬探測器開啟時(shí),運(yùn)行約20min,即用標(biāo)準(zhǔn)測試片(Fe和SUS)進(jìn)行檢測。在作業(yè)時(shí),應(yīng)在通過產(chǎn)品前,調(diào)整好機(jī)器靈敏度后,進(jìn)行再次確認(rèn),并配合產(chǎn)品進(jìn)行測試。在使用過程中,每隔30~60min用標(biāo)準(zhǔn)測試片確認(rèn)一次,在產(chǎn)品通過結(jié)束時(shí),也需要用標(biāo)準(zhǔn)測試片進(jìn)行確認(rèn)。這樣既能確保金屬探測器在使用過程中一直保持正常工作狀態(tài),還能保證當(dāng)通過產(chǎn)品發(fā)生異常時(shí)糾偏措施能夠方便而經(jīng)濟(jì)地實(shí)施。用標(biāo)準(zhǔn)測試片測試金屬探測器時(shí),正確的方法應(yīng)該為:將標(biāo)準(zhǔn)測試片放在皮帶的左、中、右三個(gè)位置通過金屬探測器的通道,并用沒有干擾的輔助物(例如膠盒等)輔助通過金屬探測器的檢測能力最弱區(qū)域,以確保產(chǎn)品在金屬探測器檢出能力范圍內(nèi)通過時(shí),金屬異物被順利檢出。在操作完這些步驟后,應(yīng)將標(biāo)準(zhǔn)測試片緊貼在已經(jīng)被確認(rèn)合格的產(chǎn)品上,再重復(fù)上一步驟。全部合格并記錄后才算一次日常金屬探測器運(yùn)行狀態(tài)確認(rèn)完成。

誤區(qū)四:可疑品確認(rèn)不科學(xué)

誤區(qū)分析:部分企業(yè)在使用金屬探測器過程中,常常將可疑的產(chǎn)品再次通過金屬探測器通道,如沒有再被攔截,則作為合格品順利放行,這種方法是不科學(xué)的。一般金屬探測器均有上下兩組線圈,稱發(fā)振源;下面由兩個(gè)繞向相反的線圈組成,稱受振源。上面線圈通電后,產(chǎn)生磁場,下面兩線圈接受,分別產(chǎn)生感應(yīng)電流IA和感應(yīng)電流IB,由于線圈繞向相反,所以正常情況下A、B電流疊加為(IA+IB)=0;如果有物體通過,感應(yīng)電流發(fā)生變化,導(dǎo)致電流不平衡,即IA=IB=△I,再通過電路放大,形成信號輸出。而不同物體通過檢測通道時(shí)產(chǎn)生的機(jī)理又存在一定的差別:磁性金屬以Fe為例,它具有磁性,通過磁場失衡,A、B兩線圈產(chǎn)生的電流不平衡,△I通過放大電路,形成信號輸出,反應(yīng)為Fe信號;非磁性金屬以SUS為例,通過磁場時(shí),它不是吸收磁力線,而是產(chǎn)生渦電流,同樣引起電流不平衡,而△I通過放大電路形成信號輸出,反應(yīng)為SUS信號。半導(dǎo)體:如鹽水、純水,具有一定的電性能(產(chǎn)生渦電流),會影響磁場變化,例如一些速凍食品在凍結(jié)不良時(shí),水分較多,通過磁場引起感應(yīng)電流變化,干擾正常的金屬檢測,含金屬產(chǎn)品檢出率會下降,會誤發(fā)出SUS的信號。而一些特殊的含水、鹽,厚度大的產(chǎn)品,密度的增加阻礙了磁力線的通過,導(dǎo)致磁場不平衡,會誤發(fā)出Fe信號。所以當(dāng)產(chǎn)品通過金屬探測器過程被檢出,則存在兩種情況,一種是確實(shí)含有金屬異物,另就是因產(chǎn)品本身組分干擾而產(chǎn)生的誤檢。如果只按照原來的方式方法再次通過金屬探測器沒有被攔截即被判定為正常放行,則有可能將含有金屬異物的產(chǎn)品混入到正常產(chǎn)品中。

推薦做法:當(dāng)產(chǎn)品發(fā)生被金屬探測器攔截后,應(yīng)將可疑品取出,然后按照原來通過方式不同的方向,重復(fù)兩次,均順利通過則可以標(biāo)識清楚流入到正常品中,如果有其中任何一次沒有被通過,則直接判定為不合格品被剔除。



標(biāo)簽:金屬探測器,
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